基于主从式架构的光强度检测系统

• 作者: 张邦锋 梁佩莹 王宇华 郭泽成
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: C# 光强检测 STM32F107微处理器 主从式架构
• 年，卷（期）: 2016,（7）
• 所属期刊栏目: 电子技术应用
• 页码范围: 134-137
• 页数: 4页
• 分类号: TN15-34|TP274+.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2016.07.033

摘要

描述了一种基于主从式架构，从机基于STM32F107的32位微处理器实现光强度数据采集，主机应用C#编程语言实现数据处理的光强度检测系统。该系统在主机端采用串口通信类库，实现程序对光强板、程控电源、PLC的控制和数据接收。主机程序的核心功能还包括光强标定和二次校准，修正硬件因素和外界条件存在的误差。系统对接收到的数据做优化处理并转换为需要的格式，样品测试的曲线分别在极坐标、直角坐标和数据列表中显示，便于数据分析。该系统可广泛应用于光源与照明领域。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王宇华	佛山科学技术学院光信息工程系	60	187	8.0	12.0
2	梁佩莹	佛山科学技术学院光信息工程系	24	55	4.0	6.0
3	张邦锋	佛山科学技术学院光信息工程系	1	1	1.0	1.0
4	郭泽成	佛山科学技术学院光信息工程系	1	1	1.0	1.0