DFT类IC的多SITE高效测试研究

• 作者: 孙恺凡
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: DFT 多SITE 测试效率
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 页码范围: 9-11
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 2077字
• 语种: 中文

摘要

介绍了多SITE的测试技术，实现了对DFT类电路的SCAN测试。详细讨论了DFT类电路的硬件和软件设计过程及测试难点，针对测试过程中可能会遇到的信号干扰问题给出解决方法并得到良好的效果。多SITE测试大幅度提高了测试效率，减少了测试成本。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙恺凡		1	0	0.0	0.0