FPGA准实时寿命损耗评价系统的验证试验设计

• 作者: 刘涵雪 吕镇邦 喻宏 谢劲松
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 现场可编程门阵列(FPGA) 特定型号 准实时寿命评价 加速寿命试验 验证试验
• 年，卷（期）: 2016,（12）
• 所属期刊栏目: 半导体检测与设备
• 页码范围: 951-958
• 分类号: TN406
• 语种: 中文
• DOI: 10.13290/j.cnki.bdtjs.2016.12.013

摘要

为验证已建立的现场可编程门阵列(FPGA)器件准实时寿命评价系统的工程合理性,进行了加速寿命试验的设计.验证试验的设计,考虑不同型号之间的可靠性差异,针对特定型号的Xilinx XCV600 FPGA样本,能够定位样本内部具体失效部位.针对FPGA高可靠性的特点,施加温度、电压和频率3种加速应力;针对FPGA使用环境多变的特点,构建了整套载荷数据跟踪与处理流程.试验方案通过硬件和软件系统实现,硬件系统进行FPGA工作环境的加载及准实时工作情况数据的采集,软件系统基于电迁移失效机理对采集到的数据进行处理得到寿命信息,将试验与预测结果进行比对完成验证.实践表明了该试验设计的可实施性,确认了部分系统预测结果的准确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢劲松	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	32	499	10.0	22.0
2	刘涵雪	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	2	4	1.0	2.0
3	吕镇邦		4	6	1.0	2.0
4	喻宏		1	1	1.0	1.0