马赫–曾德干涉条纹形状畸变研究

• 作者: 刘云 廖大麟 李佐
• 来源期刊: 光电子
• 学科: 物理学
• 关键词: M-Z干涉仪 干涉条纹 畸变 对比度
• 年，卷（期）: gdz,（2）
• 页码范围: 82-91
• 页数: 10页
• 分类号: O4

摘要

本文通过观察实验结果,发现M-Z干涉条纹形状发生了畸变,利用计算软件分析了干涉条纹的光强分布,运用相干理论分析了干涉条纹产生畸变的原因,并从光源的发光机制、实验光路、光的利用率等方面分析得出了可能影响M-Z干涉条纹形状和对比度的主要因素,提出了相应的改进措施并得出改进后的干涉条纹比改进前的干涉条纹更接近直条纹的结论,为进一步提高条纹的对比度,以及涉及干涉条纹研究的领域提供了有益的参考。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘云		13	18	2.0	3.0
2	李佐		11	6	1.0	1.0
3	廖大麟		9	4	1.0	1.0