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摘要:
本文研究了对痕量甲醛气体敏感的SnO2-NiO纳米材料的X射线光电子谱(XPS).通过对XPS O1s和Sn3d5/2分峰的分析证实了SnO2-NiO纳米材料是氧化态.在SnO2-NiO纳米材料的表面观察到了SnO2、SnO、NiO和Ni2O3,而以SnO2为主要成分,NiO含量很低.由于掺杂了低浓度NiO使SnO2-NiO纳米材料表面吸附氧的数量极大地增加,从而增加了材料表面反应活性点,进而使SnO2-NiO纳米材料对痕量甲醛(HCHO)气体的气敏性能大大提高.
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文献信息
篇名 对痕量甲醛气体敏感的SnO2-NiO纳米材料的X射线光电子谱研究
来源期刊 辽宁大学学报(自然科学版) 学科 工学
关键词 X射线光电子谱 SnO2-NiO纳米材料 甲醛气体 吸附氧
年,卷(期) 2016,(1) 所属期刊栏目 物理与工程
研究方向 页码范围 32-36
页数 5页 分类号 TN389
字数 2296字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 唐祯安 大连理工大学电子和信息工程学院 142 1281 17.0 29.0
2 吕品 辽宁大学物理学院 24 113 6.0 10.0
3 张绍成 辽宁大学计算中心 23 138 6.0 11.0
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研究主题发展历程
节点文献
X射线光电子谱
SnO2-NiO纳米材料
甲醛气体
吸附氧
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
辽宁大学学报(自然科学版)
季刊
1000-5846
21-1143/N
大16开
沈阳市皇姑区崇山中路66号
8-147
1974
chi
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1909
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