基于相移和颜色分光的电子散斑干涉瞬态三维变形测量方法

• 作者: 于瀛洁 孙流星
• 来源期刊: 光学仪器
• 学科: 工学
• 关键词: 电子散斑干涉 颜色分光 相移算法 三维变形测量
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 20-26
• 页数: 7页
• 分类号: TH744.3
• 字数: 3497字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-5630.2016.01.005

摘要

提出了一种基于相移和颜色分光的电子散斑干涉(ESPI)瞬态三维变形测量方法,该方法包括一个彩色CCD和红绿蓝三种不同波长的激光器,可同时采集来自三路的散斑干涉图像.物体面内水平方向、竖直方向以及离面方向的散斑干涉图像信息通过颜色分光实现分离,并利用相移算法对散斑干涉条纹图进行分析处理,分别解调出水平、竖直及离面方向的变形场相位,实现三维变形场的测量.模拟及实验分析表明,此方法能同时实现物体面内水平方向、竖直方向以及离面方向的变形测量,可用于物体表面的三维瞬态变形测量,也可单独完成面内或离面的二维变形测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于瀛洁	上海大学精密机械工程系	80	791	16.0	24.0
2	孙流星	上海大学精密机械工程系	6	33	4.0	5.0