同步辐射软X射线吸收谱与发射谱测定天然针铁矿能带结构

• 作者: 丁聪 李岩 李艳 鲁安怀
• 来源期刊: 岩石矿物学杂志
• 学科: 地球科学
• 关键词: 半导体矿物 针铁矿 同步辐射 吸收谱 发射谱 光催化
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 环境矿物学
• 页码范围: 349-354
• 页数: 6页
• 分类号: P578.4+97|O72
• 字数: 4135字
• 语种: 中文

摘要

天然半导体矿物由于成分、缺陷复杂,传统测试方法如紫外可见漫反射等难以准确测定其禁带宽度.本文以针铁矿为例,通过第一性原理计算得到纯针铁矿及掺Al针铁矿的电子结构.计算结果显示,纯针铁矿导带底与价带项均由Fe 3d与O 2p轨道组成,而当含杂质Al时,Al2p与O2p发生杂化参与了价带组成.在此基础上,利用同步辐射X射线氧的K边吸收谱与发射谱对纯针铁矿及天然针铁矿的能带结构进行了测定.结果表明,天然含Al的针铁矿禁带宽度为2.30 eV,小于纯针铁矿(2.57 eV).本研究提供了一种测定天然氧化物矿物禁带宽度的新方法,为深入研究天然半导体可见光催化活性产生机制提供了理论依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	鲁安怀	造山带与地壳演化教育部重点实验室北京大学地球与空间科学学院	20	66	4.0	6.0
2	丁聪	造山带与地壳演化教育部重点实验室北京大学地球与空间科学学院	4	10	3.0	3.0
3	李艳	造山带与地壳演化教育部重点实验室北京大学地球与空间科学学院	17	41	4.0	4.0
4	李岩	造山带与地壳演化教育部重点实验室北京大学地球与空间科学学院	2	4	1.0	2.0