基于动态电阻测量的SF6断路器触头烧蚀特性

• 作者: 吴杨 文习山 蓝磊 陈功
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: SF6断路器 触头 烧蚀 动态电阻 动态电阻-行程曲线 状态参数 烧蚀机理 电寿命预测
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 高压电器及其智能化专题
• 页码范围: 1731-1738
• 页数: 8页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20160616008

摘要

为研究SF6断路器在开断过程的触头烧蚀特性,对被试断路器进行了开断30 kA短路电流的烧蚀试验,通过动态电阻测量得到了触头在不同烧蚀程度下的动态电阻-行程曲线,并从曲线中提取了触头状态参数.根据这些参数在触头电寿命过程的变化规律,可以得到:1)动静触头运动存在最小有效接触行程,即14.2 mm;2)触头电阻值存在正常范围,主触头为50～150μΩ,弧触头为200～400 μΩ;3)每次烧蚀试验中触头烧蚀量不变,为0.318 mm.根据以上结果,分析了断路器在开断电流过程中触头材料损失过程及其对断路器性能的影响,并计算出每次烧蚀试验中触头烧蚀量为0.268 mm,与测量值0.318 mm数量相当,最后初步得出了SF6断路器触头电寿命的预测方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蓝磊		106	1335	22.0	33.0
2	文习山		246	4981	39.0	56.0
3	吴杨		10	73	4.0	8.0
4	陈功		22	172	9.0	12.0