静电放电对羟胺稳定性影响的密度泛函研究

• 作者: 刘建国 安振涛 张倩 王朝阳 闫军
• 来源期刊: 火工品
• 关键词: 羟胺 静电放电 稳定性 密度泛函
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 44-48
• 页数: 5页
• 分类号: TQ560.1
• 语种: 中文

摘要

为研究静电放电对羟胺稳定性的影响,采用密度泛函B3LYP方法在6-311++G(d,p)基组水平上,计算了羟胺分子在不同外电场(0~0.05a.u.)作用下的基态几何结构、电偶极距、电荷分布及分子总能量,并分析了HOMO能级、LUMO能级、能隙随外电场变化规律,然后利用杂化CIS-DFT方法在相同基组下研究了外电场对羟胺分子前9个激发态的影响.结果显示:分子的几何结构、电荷分布与外电场的大小呈现强烈的依赖关系.随着外电场的不断增加,分子的总能量逐渐减小,偶极距逐渐增大,能隙逐渐减小.同时,外电场对羟胺分子的激发态的激发能、波长和振子强度都有一定的影响.