高压电容瞬时放电时单片机软件失效机理

• 作者: 孙国先 康兴国 戴黎红
• 来源期刊: 探测与控制学报
• 关键词: 引信 电子安全系统 单片机 失效机理
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 页码范围: 23-27
• 页数: 5页
• 分类号: TJ43
• 语种: 中文

摘要

针对引信电子安全系统在实际工作中存在强电磁干扰,可使单片机出现“复位”、“死机”、RAM数据被改写的软件失效现象,研究了高压电容瞬时放电时电子安全系统中单片机软件的失效机理.导致单片机软件失效的主要机理是运算或逻辑错误源于RAM数据寄存器内容发生变化.复位源于程序跳飞到非程序区,瞬时故障和死机或死循环源于程序跳飞到程序区.实验表明,高压电容瞬时放电时确实会造成数据寄存器内容被修改;复位现象是程序跳飞到非程序区引起的;死循环或死机是因为程序计数器PC跳飞到程序区改写了指令的执行序列;瞬时故障是程序跳飞到程序区跳过部分指令执行.实验结果与机理分析一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戴黎红		6	11	2.0	3.0
2	康兴国		12	65	4.0	7.0
3	孙国先		3	0	0.0	0.0