轧制变形量对高纯银组织和电阻率的影响

• 作者: 侯江涛 宋友宝 钟素娟 马佳 龙伟民
• 来源期刊: 电工材料
• 关键词: 高纯银 轧制变形量 显微组织 电阻率
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 研究·分析
• 页码范围: 7-9
• 页数: 3页
• 分类号: TM241|TM563
• 语种: 中文
• DOI: 10.16786/j.cnki.1671-8887.eem.2016.02.002

摘要

对高纯银板进行多道次冷轧,研究不同轧制总变形量下高纯银的显微组织和电阻率.结果表明:轧制变形量为85.7％时,晶粒较粗大且大小不均匀,晶粒大小约100～200 μm,变形量在95％以上时,晶粒开始变得细小,晶粒大小在20 μm以下,高纯银晶粒随轧制变形量的增大而减小;当轧制变形量为85.7％时,电阻率为15.9 mΩ· mm2/m,变形量为99.6％时,电阻率为16.7 mΩ·mm2/m,高纯银电阻率随轧制变形量的增加而增大,生产中可通过控制轧制变形量来调控高纯银熔体材料的电阻率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龙伟民	郑州机械研究所新型钎焊材料与技术国家重点实验室	159	791	14.0	20.0
2	马佳	郑州机械研究所新型钎焊材料与技术国家重点实验室	26	119	6.0	9.0
3	钟素娟	郑州机械研究所新型钎焊材料与技术国家重点实验室	56	158	6.0	9.0
4	侯江涛	郑州机械研究所新型钎焊材料与技术国家重点实验室	4	9	3.0	3.0
5	宋友宝	郑州机械研究所新型钎焊材料与技术国家重点实验室	1	3	1.0	1.0