LED片式COB光源荧光胶层失效XPS分析

• 作者: 刘双喜 吴懿平 安兵 臧艳丽
• 来源期刊: 电子工艺技术
• 学科: 工学
• 关键词: LED失效 COB光源 成分分析 XPS分析
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 63-66,98
• 页数: 5页
• 分类号: TN31
• 字数: 2980字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14176/j.issn.1001-3474.2016.02.001

摘要

在某些长期服役情况下，部分LED片式COB光源荧光胶发黑，影响了光的转换和取出。利用场发射扫描电镜（FESEM）观察荧光胶表面形貌，并用X射线光电子能谱仪（XPS）分析发黑前后荧光胶层的组成与化学键的变化。结果表明：老化发黑的试样中C的原子分数从59.26%增加至79.05%；Si的原子分数基本没有变化；随着老化发黑程度的加深，C=C键和C=O（O-C=O）键的相对含量分别由54.6%和6.2%降低至30.4%和3.0%，C=C和C=O键被大量分解，形成游离的C和O元素，富积在芯片表面形成了黑色物质。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴懿平	华中科技大学材料科学与工程学院	79	771	16.0	24.0
2	安兵	华中科技大学材料科学与工程学院	43	354	10.0	16.0
3	臧艳丽	华中科技大学材料科学与工程学院	2	3	1.0	1.0
4	刘双喜	华中科技大学材料科学与工程学院	3	3	1.0	1.0