精密测距仪——μ—base测距精度测试方法与分析

• 作者: 李连福 肖华杰 范百兴 西勤 邓向瑞
• 来源期刊: 测绘科学与工程
• 学科: 地球科学
• 关键词: μ-base EDM ADM 测距精度 双频激光干涉仪
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 页码范围: 18-23
• 页数: 6页
• 分类号: P223

摘要

新型μ-base精密测距仪是一款高精度基线测距仪，它采用ADM测距原理，在使用角隅棱镜（CCR1．5“，RRR1．5”）时，其在160m的范围内的测距精度优于10μm。本文在分析ADM测距原理的基础上，利用双频激光干涉仪校准装置，采用“平面镜反射扩大量程”的方法，对仪器的测距精度、测程等指标进行测试，对测量的结果进行了评定和分析，并给出一些可较大程度保证其精度的使用条件和使用方法。