IGBT模块键合线失效研究

• 作者: 周文栋 张波 王学梅 赖伟
• 来源期刊: 电源学报
• 学科: 工学
• 关键词: IGBT模块 键合线 失效机理 多物理场仿真
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 页码范围: 10-17
• 页数: 8页
• 分类号: TM46
• 字数: 2800字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13234/j.issn.2095-2805.2016.1.10

摘要

新能源技术的发展对功率变流装置的性能提出了更高的要求,IGBT模块作为变流器的核心器件,其可靠性受到了越来越广泛的重视.现有研究表明,恶劣的工作环境加速了器件的老化和失效,因此,深入研究IGBT模块的老化和失效机理是功率器件应用中需亟待解决的问题.以IGBT模块的键合线为研究对象,在建立IGBT模块电-热-力多场耦合模型的基础上,对正常工作和部分键合线脱落时的温度和剪切应力进行了综合分析,指出剪切力是键合线疲劳和失效的直接原因.最后,对比传统铝键合线模型,采用铜作为键合线材料,可以进一步提高模块的可靠性.本研究为进一步分析键合线疲劳,研究IGBT模块的失效形式和寿命提供了参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张波	华南理工大学电力学院	364	6010	41.0	65.0
2	王学梅	华南理工大学电力学院	30	566	11.0	23.0
3	赖伟	重庆大学电气工程学院	23	95	6.0	9.0
4	周文栋	华南理工大学电力学院	1	15	1.0	1.0