电-热应力对GaN基白光LED可靠性的影响

• 作者: 万珍平 吴柏禧 唐洪亮 汤勇 邹水平
• 来源期刊: 发光学报
• 学科: 工学
• 关键词: LED 电流应力 温度应力 可靠性 失效分析
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 所属期刊栏目: 发光学应用及交叉前沿
• 页码范围: 124-129
• 页数: 6页
• 分类号: TN306
• 字数: 3163字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/fgxb20163701.0124

摘要

研究了电流和温度应力因子及其共同作用时对GaN基白光LED可靠性的影响,并从LED结构方面探究了各应力下LED的失效机理.结果表明,以电流作为加速应力时,荧光粉退化为其主要的失效方式,同时LED出光的相关色温上升,红色比减少;在热应力下,主要是LED芯片结构发生变化,峰值波长蓝移,光通量衰减,同时支架出现老化现象.电流和温度应力共同作用时,温度应力对LED光通量的影响大于电流应力.电-热应力下的光通量衰减大于电、热应力单独作用时的衰减之和,即电-热应力作用时,光衰不具有线性叠加性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汤勇	华南理工大学机械与汽车工程学院	139	1212	19.0	26.0
2	万珍平	华南理工大学机械与汽车工程学院	63	409	11.0	16.0
3	吴柏禧	华南理工大学机械与汽车工程学院	6	25	3.0	5.0
4	邹水平	华南理工大学机械与汽车工程学院	2	14	1.0	2.0
5	唐洪亮	华南理工大学机械与汽车工程学院	1	13	1.0	1.0