光缆老化模型研究

• 作者: 周良浩 席世友 张炎 王贤亮 鲁金屏
• 来源期刊: 光通信技术
• 学科: 工学
• 关键词: 光缆 老化 数学模型 寿命判别
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 所属期刊栏目: 其它
• 页码范围: 60-62
• 页数: 3页
• 分类号: TN913
• 字数: 1588字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13921/j.cnki.issn1002-5561.2016.04.019

摘要

指出了开展光纤老化实验测试的必要性,提出了老化性能实验测试方法.利用国网重庆市电力公司綦南供电分公司现存的光缆样品在实验室进行了老化测试,基于测试数据,总结分析了各存量光缆的老化性能数据.建立老化模型进行研究,通过模型分析,提炼出实用的光纤寿命判别方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王贤亮		5	0	0.0	0.0
2	张炎		5	11	2.0	3.0
3	周良浩		2	0	0.0	0.0
4	席世友		5	29	2.0	5.0
5	鲁金屏		2	0	0.0	0.0