原子氧作用下导电黑膜性能退化研究

• 作者: 张剑锋 杨生胜 郭云
• 来源期刊: 真空与低温
• 学科: 物理学
• 关键词: 导电黑膜 原子氧 性能退化
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 所属期刊栏目: 研 究 报 告
• 页码范围: 42-46
• 页数: 5页
• 分类号: O484
• 字数: 1921字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-7086.2016.01.010

摘要

原子氧环境是影响低地球轨道（LEO）航天器材料性能的主要空间环境因素之一，其强氧化性能够对材料造成危害。镀膜型导电黑色聚酰亚胺薄膜（简称导电黑膜）具有良好的消杂光和防静电特性，是常用的卫星天线和整星表面的防护材料。本文通过开展国外替代产品导电黑膜原子氧模拟实验，研究原子氧作用下导电黑膜的性能退化。初步探索了我国导电黑膜低轨原子氧环境适应性，为我国导电黑膜低地球轨道应用提供建议。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨生胜	兰州空间技术物理研究所真空技术与物理重点实验室	58	120	5.0	7.0
2	张剑锋	兰州空间技术物理研究所真空技术与物理重点实验室	3	4	1.0	2.0
3	郭云	兰州空间技术物理研究所空间环境材料行为及评价技术重点实验室	3	0	0.0	0.0