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反应温度对Cu2ZnSnS4半导体薄膜形貌和性能的影响
反应温度对Cu2ZnSnS4半导体薄膜形貌和性能的影响
作者:
刘俊
招瑜
熊辉
魏爱香
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
溶剂热法
Cu2ZnSnS4(CZTS)薄膜
反应温度
纳米颗粒
光学性能
摘要:
采用溶剂热合成技术,以乙醇为溶剂,以氯化锌、氯化亚锡、氯化铜和硫脲为反应剂,以草酸为还原剂,以十六烷基三甲基溴化铵为阳离子表面活性剂,直接在透明导电玻璃(FTO)衬底上制备Cu2ZnSnS4 (CZTS)半导体纳米晶薄膜.采用X射线衍射(XRD)、喇曼光谱、透射电镜(TEM)、扫描电子显微镜(SEM)和紫外-可见光谱研究了反应温度对CZTS纳米晶薄膜的形貌、结构和光学性能的影响规律.结果表明:CZTS纳米晶薄膜具有锌黄锡矿结构,当反应温度从140℃逐渐升高到230℃时,纳米晶的平均晶粒尺寸从4.25 nm逐渐增加到13.17 nm,禁带宽度从1.76 eV减小到1.53 eV;同时,低温下制备的CZTS薄膜由平均直径约450 nm的类球形颗粒组成,高温下制备的薄膜逐步演变成由相互卷绕的纳米纸构成.
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内容分析
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关键词热度
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篇名
反应温度对Cu2ZnSnS4半导体薄膜形貌和性能的影响
来源期刊
微纳电子技术
学科
工学
关键词
溶剂热法
Cu2ZnSnS4(CZTS)薄膜
反应温度
纳米颗粒
光学性能
年,卷(期)
2016,(8)
所属期刊栏目
加工、测量与设备
研究方向
页码范围
547-551
页数
分类号
TB383
字数
语种
中文
DOI
10.13250/j.cnki.wndz.2016.08.009
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
刘俊
广东工业大学材料与能源学院
33
141
6.0
10.0
2
魏爱香
广东工业大学材料与能源学院
42
197
7.0
11.0
3
招瑜
广东工业大学材料与能源学院
17
86
4.0
8.0
4
熊辉
广东工业大学材料与能源学院
1
1
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1997(1)
参考文献(1)
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2009(2)
参考文献(2)
二级参考文献(0)
2011(3)
参考文献(3)
二级参考文献(0)
2013(2)
参考文献(2)
二级参考文献(0)
2016(1)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
2016(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
溶剂热法
Cu2ZnSnS4(CZTS)薄膜
反应温度
纳米颗粒
光学性能
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微纳电子技术
主办单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1671-4776
CN:
13-1314/TN
开本:
大16开
出版地:
石家庄市179信箱46分箱
邮发代号:
18-60
创刊时间:
1964
语种:
chi
出版文献量(篇)
3266
总下载数(次)
22
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