有源相控阵天线的近场校准

• 作者: 焦禹 陈文俊
• 来源期刊: 电讯技术
• 学科: 工学
• 关键词: 相控阵天线校准 旋转矢量法 近场扫描法 互耦效应 幅相一致性
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 所属期刊栏目: 电子与信息工程
• 页码范围: 453-457
• 页数: 5页
• 分类号: TN820
• 字数: 3562字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-893x.2016.04.018

摘要

为实现对相控阵天线的校准，降低幅相误差和阵元失效对天线性能的影响，提出了一种考虑互耦效应的近场校准方法。在利用近场扫描法完成逐一通道校准的基础上，使用旋转矢量法进行二次校准。在应用旋转矢量法（ REV)时，为使被测信号的变化明显，将大规模相控阵天线分为中间、边缘区域进行分区校准。通过二次校准可判定阵元是否失效，提高相控阵天线的幅相一致性；通过分区校准减小阵元间互耦的影响，缩短校准时间。仿真结果表明：此方法用于大型相控阵的校准具有较高的准确性，可改善校准结果。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈文俊		10	53	4.0	7.0
2	焦禹		1	4	1.0	1.0