基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
随着云计算和大数据时代的到来,人们对集成电路可靠性的要求越来越高.再加上晶体管尺寸及栅氧厚度的不断缩小,NBTI效应已经成为影响集成电路可靠性的重要因素.针对这一问题,提出了一种可编程的老化感知触发器,目的是为了监控老化效应,避免老化引起的故障.这种设计将有效地提高老化预测的准确性.
推荐文章
一种可编程的多协议RFID读写器的设计
RFID
FPAA编程
多协议读写器
一种可编程数字温度计的设计
AT89C2051
SWC
数字温度计
NE555
MC14553
一种新型CMOS施密特触发器
CMOS
施密特触发器
阀值电平
磁滞宽度
传输延迟
一种具有掉电数据保持功能的触发器设计
相变存储器
掉电数据保持
触发器
双置位
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 一种可编程的老化感知触发器设计
来源期刊 佳木斯大学学报(自然科学版) 学科 工学
关键词 负偏置温度不稳定性 电路老化 触发器 可编程 延迟单元
年,卷(期) 2016,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 238-241
页数 4页 分类号 TP302.1
字数 3652字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 徐辉 安徽理工大学计算机科学与工程学院 38 54 4.0 6.0
2 汪康之 安徽理工大学电气与信息工程学院 2 1 1.0 1.0
3 陈玲 安徽理工大学计算机科学与工程学院 1 0 0.0 0.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (4)
共引文献  (1)
参考文献  (1)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1991(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1999(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2001(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2003(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
2016(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
负偏置温度不稳定性
电路老化
触发器
可编程
延迟单元
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
佳木斯大学学报(自然科学版)
双月刊
1008-1402
23-1434/T
大16开
黑龙江省佳木斯市学府街148号
14-176
1983
chi
出版文献量(篇)
5218
总下载数(次)
9
总被引数(次)
12928
  • 期刊分类
  • 期刊(年)
  • 期刊(期)
  • 期刊推荐
论文1v1指导