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摘要:
RF MEMS开关加工工序多,过程复杂,加工难度较大,影响开关加工质量的因素众多。从工艺流程入手,对加工过程中的牺牲层平坦化、牺牲层释放、薄膜微桥厚度及均匀性控制、薄膜微桥应力处理等关键技术和重要影响因素进行了分析。研制的20~40 GHz RF MEMS开关,其插入损耗≤0.4 dB,回波损耗≤-20 dB,隔离度≥20 dB,驱动电压50~100 V,热切换寿命≥106次。
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内容分析
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文献信息
篇名 毫米波RF MEMS开关的研制
来源期刊 电子工艺技术 学科 工学
关键词 RF MEMS开关 牺牲层平坦化 牺牲层释放 薄膜微桥 应力释放
年,卷(期) 2016,(1) 所属期刊栏目 微组装 SMT PCB
研究方向 页码范围 35-39
页数 5页 分类号 TN4
字数 4629字 语种 中文
DOI 10.14176/j.issn.1001-3474.2016.01.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 党元兰 9 68 5.0 8.0
2 赵飞 25 77 5.0 7.0
3 徐亚新 5 13 2.0 3.0
4 梁广华 6 17 2.0 4.0
5 刘晓兰 4 13 2.0 3.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
RF MEMS开关
牺牲层平坦化
牺牲层释放
薄膜微桥
应力释放
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
电子工艺技术
双月刊
1001-3474
14-1136/TN
大16开
太原市115信箱
22-52
1980
chi
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