X射线探伤方法在不等厚焊接接头中的应用

• 作者: 吴大军 郭海燕
• 来源期刊: 本钢技术
• 学科: 工学
• 关键词: 不等厚焊接接头 射线探伤 黑度范围 管电压
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 其它
• 页码范围: 39-43
• 页数: 5页
• 分类号: TG115
• 语种: 中文

摘要

在不等厚对接接头射线探伤中,底片经常出现黑度不均匀、边蚀效应严重、底片质量欠佳现象,从而干扰评片人员对缺陷的正确判定.如何选择最佳参数以获得较好底片质量是探伤人员面临的问题.