非共面Offner结构高分辨率成像光谱仪设计

• 作者: 姜明 宋宝奇 方伟 王玉鹏 高震宇
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光学设计 成像光谱仪 光谱分辨率 像差校正 光线遮挡
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 成像系统
• 页码范围: 70-76
• 页数: 7页
• 分类号: O433|TH744
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/AOS201636.0211002

摘要

Offner成像光谱仪在大色散需求下成像质量不足并且易发生光线遮挡,为此设计了一种基于罗兰圆条件的非共面Offner结构光谱仪.分析并推导出了一种非共面Offner结构成像光谱仪的消除像散及彗差同时解决光线遮挡的设计方法.使用该方法设计出光谱范围为350～1000 nm,色散宽度为12.6 mm的成像光谱仪.在奈奎斯特频率(30 lp/mm)下其调制传递函数在全视场、全光谱范围优于0.78,点列图均方根半径优于4μm,同时,系统的谱线弯曲及谱带弯曲均小于1％像元尺寸.最后,将非共面Offner结构成像光谱仪与传统Offner结构进行对比,结果表明,在高光谱分辨率需求下,当入射狭缝较小时,非共面Offner结构光谱仪具有更好的成像质量,并且在谱线弯曲及谱带弯曲的控制上具有优势,可用于小体积高光谱分辨率成像光谱仪器设计.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	方伟	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	79	538	13.0	18.0
2	王玉鹏	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	47	269	9.0	14.0
3	姜明	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	77	1180	20.0	32.0
4	高震宇	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	11	72	4.0	8.0
5	宋宝奇	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	12	50	5.0	7.0