PAUT校验用国际新试块

• 作者: 李衍
• 来源期刊: 无损探伤
• 学科: 工学
• 关键词: ⅡW试块 ISO 相控阵超声检测 特性校验
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 研究与应用
• 页码范围: 5-9
• 页数: 5页
• 分类号: TG115.28
• 语种: 中文

摘要

介绍相控阵超声检测(PAUT)用ISO(国际标准化组织)最新校验试块,概述试块的基本特点和主要功能.可望为当今PAUT系统校验,提供有用测评手段.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李衍		78	1	1.0	1.0