一致性稳健设计是缩短与国外电子元器件质量差距的重要途径

• 作者: 叶雪荣 杨文英 翟国富
• 来源期刊: 机电元件
• 学科: 工学
• 关键词: 电子元器件 质量一致性 稳健设计
• 年，卷（期）: 2016,（5）
• 所属期刊栏目: 综述与简介
• 页码范围: 59-64
• 页数: 6页
• 分类号: TN784
• 字数: 2456字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6133.2016.05.012

摘要

电子元器件产品在制造和实际应用中受三种干扰因素(内干扰:磨损、 老化、 退化等;外干扰:力学、 热学、 电磁兼容性、 空间辐照等;物间干扰:加工工艺分散性等)影响,其质量分散性较大,这是制约我国元器件自主创新发展的主要技术瓶颈.本文提出一种元器件产品质量一致性稳健设计方法,在完成产品功能设计基础上,采用DOE方法,通过参数稳健设计和容差稳健设计,科学地确定和分配影响产品质量特性波动的关键设计参数(对主要性能参数波动影响显著)及其容差(或公差),可为元器件产品生产过程关键工序控制指标提供理论依据,从而大幅度提高元器件产品质量一致性指标.该方法是缩短我国电子元器件产品质量与国外差距的重要途径,对提升军用电子元器件国产化率和自主可控能力具有重要作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	翟国富	哈尔滨工业大学军用电器研究所	280	2576	26.0	34.0
2	叶雪荣	哈尔滨工业大学军用电器研究所	56	265	9.0	13.0
3	杨文英	哈尔滨工业大学军用电器研究所	48	257	8.0	14.0