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摘要:
共面微波探针是裸芯片测量信号输入/输出的重要媒介,通过与晶圆片物理接触,建立起测量系统与芯片之间的信号连接通道.为了获得共面微波探针完整准确的S参数,设计并实现了“两步法”测量方案,首先在同轴端口进行校准,然后在探针尖端口进行第二步校准.通过与出厂数据进行对比分析,证明了方案的可行性,同时指出在片校准件预校准的重要性.另外,讨论了氧化铝和砷化镓两种材料在片SOLT校准件对于探针S参数提取中的影响,实验显示二者相角偏差达到39.8°,回波损耗呈现规则性的变化,全部测量数据的频段覆盖1~40 GHz,最终给出了优化的测量方案.
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文献信息
篇名 提取共面微波探针S参数的方法
来源期刊 微波学报 学科
关键词 共面波导 微波探针 裸芯片 S参数
年,卷(期) 2016,(2) 所属期刊栏目 学术论文与技术报告
研究方向 页码范围 35-38
页数 分类号
字数 语种 中文
DOI 10.14183/j.cnki.1005-6122.201602008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 梁法国 中国电子科技集团公司第十三研究所 54 104 5.0 7.0
2 吴爱华 中国电子科技集团公司第十三研究所 40 63 4.0 6.0
3 刘晨 中国电子科技集团公司第十三研究所 19 21 3.0 3.0
4 孙静 中国电子科技集团公司第十三研究所 15 20 3.0 4.0
5 楼红英 4 7 2.0 2.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
共面波导
微波探针
裸芯片
S参数
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微波学报
双月刊
1005-6122
32-1493/TN
16开
南京3918信箱110分箱
1980
chi
出版文献量(篇)
2647
总下载数(次)
8
总被引数(次)
16115
论文1v1指导