Ca（1-x）Al2 Si2 O8∶Eux表面结构与荧光强度相互关系的研究

• 作者: 张利胜 杨晓云 祖恩东 董鹍 贺晓
• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 化学
• 关键词: CaAl2 Si2O8 拉曼光谱 硅(铝)氧四面体 X荧光光谱 荧光强度
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 页码范围: 146-150
• 页数: 5页
• 分类号: O657.3
• 字数: 4480字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2016)01-0146-05

摘要

采用固相法分别在1150，1250，1350，1450℃下制备了Ca（1- x）Al2Si2O8∶ Eux（x＝0，0.01，0.05，0.15）系列微晶材料。通过X射线衍射仪（XRD）、拉曼光谱仪（Raman）、光致发光光谱仪（PL）和X射线荧光光谱仪（XRF）研究了CaAl2 Si2 O8表面结构与荧光强度之间的相互关系。XRD和Raman结果表明：在制备CaAl2 Si2 O8材料的过程中，随着温度不断升高，原材料逐渐结晶形成结构较为完整的CaAl2 Si2 O8相；并且从拉曼光谱可以清晰看出，当Eu掺杂量相同时，随着烧结温度的升高，Si-O非晶相逐渐减少，硅氧四面体逐步形成，其振动峰位置逐渐向低波数移动，但当温度过高时硅氧四面体破坏形成宽化的的非晶峰；Eu的掺杂阻碍了Al取代Si位置的过程，因此在1620波数处振动峰先增强后减弱。这种材料表面结构的变化与Eu的掺杂密切相关，影响着材料表面Eu原子数量分布。PL和XRF结果表明：相同Eu掺杂量时，温度越高越有利于Eu原子扩散到样品表面，从而使样品的荧光强度更强。因此样品的荧光强度和样品单位表面积Eu原子数量存在正比关系。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	祖恩东	昆明理工大学材料科学与工程学院	73	319	10.0	16.0
2	董鹍	昆明理工大学分析测试研究中心	22	144	7.0	11.0
3	贺晓	昆明理工大学材料科学与工程学院	3	7	2.0	2.0
7	杨晓云	昆明理工大学分析测试研究中心	9	50	3.0	7.0
8	张利胜	首都师范大学北京市纳米光电子学重点实验室	2	3	1.0	1.0