CFETR极向场磁体CICC导体稳定性与交流损耗分析

• 作者: 何欣 宋云涛 徐薇薇 郑金星
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 管内电缆导体 稳定性 交流损耗 极向场
• 年，卷（期）: 2016,（19）
• 所属期刊栏目: 电工理论与新技术
• 页码范围: 224-231
• 页数: 8页
• 分类号: TM249.7
• 字数: 3963字
• 语种: 中文

摘要

中国聚变工程实验堆(CFETR)是超导托卡马克装置,其极向场(PF)磁体对控制等离子体位置形状起重要作用.PF系统能否稳定运行主要取决于管内电缆导体(CICC)的稳定性.为确保PF系统稳定运行,应用数值模拟计算程序Gandalf对CFETR PF磁体CICC进行了稳定性分析,给出了机械和电磁扰动下其稳定性裕度、最小失超能量、温度裕度的计算结果以及分流温度随工作电流和磁场强度变化的规律和失超特性.此外,交流损耗为影响导体稳定性的重要因素,对导体交流损耗进行了计算,并研究了其对导体稳定性的影响.分析结果表明CFETR极向场磁体的导体目前的设计能够充分满足安全裕度的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋云涛	中国科学院等离子体物理研究所	120	587	12.0	17.0
2	何欣	中国科学技术大学核科学技术学院	78	353	10.0	14.0
3	徐薇薇	中国科学院等离子体物理研究所	12	36	3.0	5.0
4	郑金星	中国科学院等离子体物理研究所	5	8	2.0	2.0