直流电弧直读光谱法测定钼粉其及化合物中铁、硅等17种杂质元素

• 作者: 张蕾 彭宇 李林元 颜晓华
• 来源期刊: 硬质合金
• 关键词: 原子发射光谱 直流电弧 直读光谱仪 同时测定 纯钼
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 分析检测
• 页码范围: 119-127
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-7292.2016.04.007

摘要

利用原子发射光谱原理,运用载体分馏效应,在载体存在的条件下利用基体与杂质元素的蒸发特性,电极中实现杂质元素与基体分馏,用直流电弧阳极激发,仪器在激发过程同时进行信号采集和背景校正,完成所有光谱数据的采集.通过大量的试验,选择碳粉、碳酸钠、氧化镓、氟化钠、氧化锗、氧化锌按一定比例混合做载体,采用12A作为工作电流,根据时序分析、扫描峰等确定各元素积分时间、50 s总曝光时间、分析线波长,建立了直流电弧直读光谱仪同时测定钼粉及其化合物中铁、硅等17种杂质元素的分析方法,分析范围为0.5～350μg/g,加标回收率94％～107％,RSD小于17％,满足光谱分析要求.方法快速简便,适用于生产分析.