D-D次生源计数对密度测量的影响

• 作者: 于华伟 张丽
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: D-D源 俘获γ 密度测量 蒙特卡罗模拟
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 核物理、交叉学科研究
• 页码范围: 44-49
• 页数: 6页
• 分类号: TL99|TE19
• 字数: 3937字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11889/j.0253-3219.2016.hjs.39.030502

摘要

为研究D-D源密度测量过程中俘获γ计数对密度测量的影响,本文首先分析D-D源密度测量的原理,其次研究D-D源与地层反应产生的γ射线类型,并采用蒙特卡罗模拟方法对比分析了D-D源和D-T源密度测量过程中次生γ强度高低.结果表明,D-D源密度测量过程中次生γ以俘获γ为主;尽管D-D源的中子产额远低于D-T源,但在源距大于50 cm后低孔隙地层中D-D源俘获γ计数高于D-T源非弹γ计数;此外,高孔隙地层中D-D源俘获γ计数也可以通过调整源距大小满足密度测量的要求.因此,使用D-D源测量的次生γ计数能够满足密度测量的统计精度要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张丽	山东科技大学资源与土木工程系	16	39	4.0	5.0