80C196KB 内部 A／D 转换器绝对误差失效分析

• 作者: 丁宁 王建超
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 80C196KB A /D 转换器 D /A 转换器 绝对误差 失效分析 测试系统
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 大规模集成电路设计、制造与应用
• 页码范围: 24-26
• 页数: 3页
• 分类号: TP2
• 字数: 1394字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2016.02.008

摘要

80C196KB 内部集成8路10位 A ／D 转换器，它由一个8通道的模拟多路开关、一个采样／保持电路、一个10位逐次逼近型 A ／D 转换器、A ／D 命令寄存器、A ／D 结果寄存器和控制逻辑等组成。介绍了通过对80C196KB 内部 A ／D 转换器测试，简化 A ／D 器件测试，构建简单快速、通用性好的绝对误差测试系统，以 Intel 公司的80C196KB 单片机与16位串行 D ／A 转换器 AD5541为例，介绍该类测试系统的构建与编程，并给出具体的编程思路，提出了一种软硬件结合的 A ／D 转换器绝对误差失效分析方法，给出了测试系统结构图，并详细描述了软件实现过程。这种方法对于其它具有内部 A ／D 转换器的单片机一样适用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁宁	中国电子科技集团公司第四十七研究所	5	5	2.0	2.0
2	王建超	中国电子科技集团公司第四十七研究所	6	8	2.0	2.0