参数化的嵌入式乘法器测试技术研究

• 作者: 杨会平 肖景 贺达江
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA VHDL 乘法器 BIST
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 【嵌入式技术】
• 页码范围: 98-101
• 页数: 4页
• 分类号: TN710
• 字数: 2960字
• 语种: 中文

摘要

设计并实现了一种利用内建自测试（built-in self-test ，BIST ）技术对Alteral公司FPGA芯片中嵌入乘法器资源实施故障检测与诊断的方法。该方法利用V HDL语言设计一种独立于乘法器内部结构测试算法，通过3次配置下载，可以检测出芯片中嵌入乘法器资源在工作模式下所有固定故障类型，同时能够对故障乘法器进行定位。最后在被测乘法器测试模型之上设计了完整的BIST 测试电路，通过对该电路的实测，验证了文中测试方法的准确性与有效性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贺达江		30	133	6.0	10.0
3	肖景		7	18	3.0	3.0
9	杨会平		1	2	1.0	1.0