一种嵌入式NOR Flash控制器IP的设计

• 作者: 李天阳 解同同
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: NOR Flash IP核 存储器控制器 可测试性
• 年，卷（期）: 2016,（7）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 18-21
• 页数: 4页
• 分类号: TN402
• 字数: 1693字
• 语种: 中文

摘要

当前,嵌入式Flash广泛应用于嵌入式系统领域,便于系统进行软件在线更新和系统维护.嵌入式NOR Flash可以“嵌入”在芯片中作为高速缓存,对于提升芯片整体性能作用明显.传统的嵌入式NOR Flash不具备测试接口,在芯片出现工作异常时不便于对整个芯片进行故障诊断.设计并实现了一种具有片上可测试功能的嵌入式NOR Flash控制器IP.控制器主要分为控制模块与测试模块两个部分,分别对两个模块进行分析设计.经过仿真验证,控制器可以实现对NOR Flash的正常操作与片外测试功能,达到了设计目标.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李天阳		11	29	4.0	4.0
2	解同同	江南大学物联网工程学院	3	3	1.0	1.0