基于混合纠错码的可容错性高速缓存研究

• 作者: 丁永林 赵彩 陈志坚
• 来源期刊: 计算机应用研究
• 关键词: 可容错性 高速缓存 纠错码 硬错误 软错误
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 系统应用开发
• 页码范围: 444-446,457
• 页数: 4页
• 分类号: TP302.8
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3695.2016.02.029

摘要

针对低电压下cache硬错误和软错误概率提高导致cache不能正常工作的问题,提出了一种基于混合纠错码的cache结构.该结构利用脏数据正确性必须由处理器中cache保证而干净数据可由片外恢复的数据特征,将cache分成多比特纠错码和单比特纠错码保护的两个区域.通过采用新的cache替换策略,使得脏数据总处于多比特纠错码保护区域,保证其得到较强保护,从而保证cache在低电压下的可靠性运行.基于EEMBC测试基准的实验结果表明,该设计可以在590 mV电压下正常运行,与该领域最新研究VS-ECC相比,降低了23.6％的纠错码存储信息量,性能提高5.9％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈志坚	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	28	59	3.0	7.0
2	丁永林	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	4	20	3.0	4.0
3	赵彩	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	1	3	1.0	1.0