速调管中二次电子引起的杂谱和高频包络塌肩研究

• 作者: 丁海兵 丁耀根 孙小欣 张兆传 曹静 沈斌
• 来源期刊: 真空科学与技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 速调管 二次电子 高频包络 杂谱
• 年，卷（期）: 2016,（11）
• 所属期刊栏目: 电子器件
• 页码范围: 1260-1265
• 分类号: TN122
• 语种: 中文
• DOI: 10.13922/j.cnki.cjovst.2016.11.08

摘要

描述了一个宽带多注速调管研制过程中出现的杂谱和高频包络塌肩现象,分析这些现象是由谐振腔二次电子谐振和二次电子内反馈引起的,本文根据消除二次电子谐振的方法提出了消除或抑制杂谱和高频包络塌肩的方法.文章中提出的方法已经被应用在速调管设计中,并经热测试验验证行之有效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁耀根	中国科学院电子学研究所中国科学院高功率微波源与技术重点实验室	112	1050	18.0	26.0
2	曹静	中国科学院电子学研究所中国科学院高功率微波源与技术重点实验室	25	257	8.0	15.0
3	丁海兵	中国科学院电子学研究所中国科学院高功率微波源与技术重点实验室	8	35	2.0	5.0
4	张兆传	中国科学院电子学研究所中国科学院高功率微波源与技术重点实验室	31	158	6.0	11.0
5	孙小欣	中国科学院电子学研究所中国科学院高功率微波源与技术重点实验室	3	35	2.0	3.0