内嵌式触摸显示屏中横条纹缺陷的研究与改善

• 作者: 周亚玲 张洲 徐盼 蔡育徵 马长文
• 来源期刊: 光电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 横条纹缺陷 内嵌式触控 水平同步扫描模式 报点率 显示质量
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 253-256
• 页数: 4页
• 分类号: TN27
• 语种: 中文
• DOI: 10.19453/j.cnki.1005-488x.2016.04.008

摘要

针对内嵌式触控显示屏中横条纹缺陷进行了原因分析,提出了相应的解决方案,如调节扫描电压、改变驱动模式、增强驱动能力等.实验结果表明,水平同步扫描模式下,内嵌式触控屏报点率达到120 Hz,横条纹缺陷问题得到了改善,对提高显示质量有重要意义.