辉光放电质谱法测定高纯铪中的痕量元素

• 作者: 郑清洪 黄瑾
• 来源期刊: 福建分析测试
• 学科: 化学
• 关键词: 辉光放电质谱法 高纯铪 多原子离子干扰
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 14-18
• 页数: 5页
• 分类号: O657.63
• 字数: 2320字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-8143.2016.03.03

摘要

采用辉光放电质谱法,直接测定高纯Hf中的痕量元素.通过对仪器调谐,优化了工作参数,并对测试过程中产生的多原子离子干扰进行仔细考察,得到较为理想的测试结果.当元素含量在ug/g水平时,测量的相对标准偏差(RSD)小于10％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄瑾	中国科学院福建物质结构研究所	4	11	2.0	3.0
2	郑清洪	福建农林大学材料工程学院	2	2	1.0	1.0