浅析绝缘材料耐电晕寿命评定的影响因素

• 作者: 宋玉侠 曹任品 武红敏 罗传勇 钱三来
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 绝缘材料 耐电晕 寿命评定 脉冲电压
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 页码范围: 73-76
• 页数: 4页
• 分类号: TM851
• 语种: 中文
• DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2016.04.014

摘要

通过调整高频脉冲绝缘测试仪的电极系统、脉冲电压幅值及上升时间,定量定性的分析了各因素对耐电晕绝缘材料耐电晕寿命的影响.结果表明:绝缘材料的耐电晕寿命随脉冲上升时间增加而增加,随脉冲电压幅值的增加而呈指数型降低;尽量统一高频脉冲绝缘测试仪的波形、脉冲电压幅值及上升时间等试验参数,可减少设备之间测试结果的差异.同时指出了在测试中需要注意的问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋玉侠		4	12	2.0	3.0
2	罗传勇		5	14	2.0	3.0
3	钱三来		4	35	2.0	4.0
4	曹任品		2	3	1.0	1.0
5	武红敏		1	1	1.0	1.0