微波断层扫描 全局优化，并行化和性能评价

• 作者: Sima Noghanian 杨盈莹
• 来源期刊: 国外科技新书评介
• 学科: 工学
• 关键词: 微波成像 断层扫描 全局优化 性能评价 并行化 生物医学成像 复介电常数 照射器
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 页码范围: 19-20
• 页数: 2页
• 分类号: TN015

摘要

微波成像是成像领域的一个新方向，其中一个重要的微波成像应用是生物医学成像。微波成像由照射体和测量场组成．用低功率相干微波源作照射器，照射需成像的目标对象，然后在相对一侧测量由目标散射的场，即反射成象。测得的数据可以用特殊的重建算法处理，给出散射体上的复介电常数的信息。微波成像中，测量到的电磁场和重建均为复数，因而可得到更多的信息，不同的参数均可用图像形式表示。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨盈莹	中国科学院半导体研究所	89	10	2.0	3.0