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摘要:
残留谱线弯曲限制了切尔尼-特纳平面光栅光谱仪在成像光谱仪中的应用.本文不同于传统的基于棱镜的光栅谱线弯曲补偿方法,提出了基于倾斜场镜的补偿方法,即在校正场曲的同时对入射到场镜不同区域,不同波长的狭缝像分别进行谱线弯曲校正,且没有改变系统的其它光学特性.对狭缝大小为7.8 mm×0.016 mm、光谱范围0.31~0.5 μm、光谱分辨率0.4 nm、物方焦距70 mm、1:1放大倍率的切尔尼-特纳成像光谱仪进行了优化设计,结果全谱段、全视场MTF>0.8,点列图RMS半径小于9μm,相对谱线弯曲小于0.2%,满足设计要求.实际设计表明该方法对于可选用光学玻璃有限,且能量较弱的紫外光学系统是一种可选的优化设计方法.
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文献信息
篇名 基于倾斜场镜的C-T成像光谱仪优化设计
来源期刊 光子学报 学科 物理学
关键词 光学设计 光栅光谱仪 场镜 谱线弯曲 切尔尼-特纳 紫外 石英
年,卷(期) 2016,(4) 所属期刊栏目 仪器,测量,度量学
研究方向 页码范围 145-149
页数 分类号 O43
字数 语种 中文
DOI 10.3788/gzxb20164504.0412002
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郝爱花 西安邮电大学电子工程学院 13 40 3.0 6.0
2 胡炳樑 中科院西安光学精密机械研究所光谱成像技术实验室 1 1 1.0 1.0
3 李立波 中科院西安光学精密机械研究所光谱成像技术实验室 1 1 1.0 1.0
4 李芸 中科院西安光学精密机械研究所光谱成像技术实验室 1 1 1.0 1.0
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大16开
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