EDXRF法测定V-Ta合金中Ta含量

• 作者: 余春荣 刘露 王雯 肖吉群 赵建龙 高戈
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: V-Ta合金 EDXRF法 Ta含量
• 年，卷（期）: 2016,（7）
• 页码范围: 710-713
• 页数: 4页
• 分类号: TB3
• 字数: 2489字
• 语种: 中文

摘要

为适应新型合金材料( V -Ta 合金)研制的需要，建立了用能量色散 X 射线荧光光谱( EDXRF)法测定V-Ta合金中Ta含量的分析方法。该方法将溶解的V-Ta合金切屑样制成滤纸片试样，用能量色散X射线荧光光谱仪测定其Ta含量。该方法简便、快速，测定Ta含量在25%~40%范围内的样品时，其测量结果的相对标准偏差(n=6)不大于1%。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高戈	中国工程物理研究院材料研究所	12	28	4.0	4.0
2	余春荣	中国工程物理研究院材料研究所	19	13	2.0	2.0
3	肖吉群	中国工程物理研究院材料研究所	12	17	2.0	3.0
4	刘露	中国工程物理研究院材料研究所	1	1	1.0	1.0
5	赵建龙	中国工程物理研究院材料研究所	3	1	1.0	1.0
6	王雯	中国工程物理研究院材料研究所	4	6	1.0	2.0