基于光电测量的船载测控天线副反射面位置检测

• 作者: 刘向前 刘四方 李培 梁盛
• 来源期刊: 电讯技术
• 学科: 工学
• 关键词: 船载测控系统 测控天线 副反射面位置检测 馈源偏焦
• 年，卷（期）: 2016,（9）
• 所属期刊栏目: 电子与信息工程
• 页码范围: 1044-1048
• 页数: 5页
• 分类号: TN828.4
• 字数: 3041字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-893x.2016.09.017

摘要

为消除馈源偏焦对天线跟踪性能的影响，首先，介绍了格里高利天线的结构及原理，分析了馈源偏焦对天线性能的影响；其次，采用光电测量原理，提出了基于光学检测的副反射面和馈源相对位置变化检测方法，通过比对测量电压值与标称电压值，从而为判断馈源是否偏焦提供依据，为设备问题的分析判断及故障的排查提供保障；最后，进行了半实物仿真实验，通过实验数据分析，结果表明该方法是有效的。