表面误差对双弯曲反射面天线副瓣的影响

• 作者: 张恒源 李怀珠 李红梅 沈均好
• 来源期刊: 现代雷达
• 学科: 工学
• 关键词: 低副瓣 表面误差 电磁仿真 分布函数
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 所属期刊栏目: 天馈伺系统
• 页码范围: 61-64
• 页数: 4页
• 分类号: TN957.7
• 字数: 2136字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16592/j.cnki.1004-7859.2016.01.014

摘要

天线反射面的表面误差会引起反射面天线的副瓣发生变化. 为确定赋形波束双弯曲反射面天线反射面的表面误差与反射面天线副瓣最大值变化之间的关系,采用数理统计的方法,对受到随机表面误差影响的面电流积分,得到天线辐射场. 随机表面误差用相关半径和Z向随机误差两个参量表示. 根据随机表面误差求出其天线最大副瓣样本分布函数,较好地展现了表面误差引起的副瓣最大值变化,使得反射面天线表面误差引起的副瓣变化可预测,为天线反射面加工的精度要求提供了理论依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李红梅		7	3	1.0	1.0
2	李怀珠		7	3	1.0	1.0
3	沈均好		6	1	1.0	1.0
4	张恒源		2	2	1.0	1.0