氧化受损甘氨酸分子内质子迁移的机理

• 作者: 孟祥军 杨笑春 杨静 石瑾 贾俊芳
• 来源期刊: 厦门大学学报（自然科学版）
• 学科: 化学
• 关键词: 氧化损伤 甘氨酸阳离子 质子迁移 反应机理 量子化学
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 168-173
• 页数: 6页
• 分类号: O641
• 字数: 3595字
• 语种: 中文
• DOI: 10.6043/j.issn.0438-0479.2016.02.004

摘要

采用M06,B3 LYP和CCSD方法,在6-31++G**基组水平研究了氧化受损甘氨酸分子的构象异构化机理,探讨了甘氨酸氧化受损后的性质变化和溶剂化效应.找到7个甘氨酸阳离子稳定构型和9个过渡态,发现甘氨酸阳离子构象异构化过程存在质子迁移反应,质子从羧基迁移到氨基的能垒为15.2 kJ/mol,从α-C迁移到羰基O的能垒为138.6 kJ/mol;最稳定甘氨酸构象失去一个电子的垂直电离势为878.0 kJ/mol;N5原子失电子最多(超过0.4),其他各原子失去电荷不多(均低于0.1);电荷变化导致迁移质子所在化学键显著被削弱.溶剂化效应能显著增高质子迁移反应能垒.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	石瑾	唐山师范学院化学系	25	32	4.0	5.0
2	孟祥军	唐山师范学院化学系	38	50	4.0	5.0
3	贾俊芳	唐山师范学院化学系	24	58	5.0	7.0
4	杨静	唐山师范学院化学系	19	65	3.0	8.0
5	杨笑春	唐山师范学院化学系	25	13	2.0	3.0