含缺陷胶接接头的内聚强度受不同外载作用影响的研究

• 作者: 张建军 李云 梁伟 赵兴国
• 来源期刊: 太原理工大学学报
• 关键词: 对接接头 胶黏剂 单轴拉伸 四点弯曲 缺陷 内聚强度
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 材料科学与工程·化学与化学工程
• 页码范围: 134-139
• 页数: 6页
• 分类号: O344.1|TB302.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.16355/j.cnki.issn1007-9432tyut.2016.02.002

摘要

利用TS-802高强度胶黏剂对高碳不锈钢进行对接胶接接头连接,对不同固化过程试样,分别采用单轴拉伸和四点弯曲实验,测试研究其对接胶接接头的内聚强度;通过隔离体平衡法和中性轴平移法分析了四点弯曲加载方式下界面应力的演化过程,并通过实验验证胶黏剂的层内缺陷对内聚强度的影响.研究表明,室温下固化24h与80℃固化2h相比,后者具有更高的内聚强度;在固化过程中,胶黏剂胶层内部不可避免产生缺陷,缺陷主要集中在中央区域,而在边缘区域为光滑无缺陷区,因此四点弯曲加载方式下界面具有更高的边缘应力内聚强度;隔离体平衡法和中性轴平移法两种理论分析均表明,常规弯曲应力公式与本文中推导得到的应力公式的理论比值为2.5.本文的实验和理论研究有助于更系统和更深入地理解胶黏荆的内聚强度受不同固化方式及不同强度测试手段的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁伟	太原理工大学材料科学与工程学院	191	1217	15.0	28.0
2	赵兴国	太原理工大学材料科学与工程学院	66	358	10.0	15.0
3	李云	中北大学理学院	11	35	4.0	5.0
4	张建军	中北大学理学院	11	32	3.0	5.0