板上芯片集成封装发光二极管的光色检测系统

• 作者: 张刘刘 王成群 裘燕青 陈苗根
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 光色检测 发光二极管(LED) 板上芯片(COB) 色坐标 色温 光通量
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 所属期刊栏目: 现代应用光学
• 页码范围: 39-44
• 页数: 6页
• 分类号: TN312.8|TB96
• 字数: 1672字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/OPE.20162401.0039

摘要

针对板上芯片(COB)集成封装发光二极管(LED)补粉排测设备对光色参数检测的需求,研制了一套基于光纤光谱仪的LED快速光色检测系统.该系统包括光色参数检测模块、LED测试机械结构及显示模块等3个部分.光色参数检测模块主要由自制光谱仪构成,用于对测量获得的光谱数据进行计算,进而得出LED的光色参数.LED测试机械结构由积分球和可加装不同COB封装LED的夹具测试平台构成.基于该系统架构,可快速测量LED的光通量、色坐标及色温等参数.利用该设备进行了COB封装LED的快速扫描并测量了它的光色参数,期间操作者可根据实际测量结果进行相应的补粉.结果表明:在测试10颗LED时,单次测量时间少于3 s;LED色坐标准确度优于±0.003,色坐标重复性小于0.000 5,色温测试精度为0.6％@5700K,色温重复性误差小于0.000 8.测试结果满足了当前大功率COB封装IED测试系统对速度、准确性和重复性的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王成群	浙江理工大学信息学院	10	14	2.0	3.0
2	陈苗根	中国计量学院光学与电子科技学院	10	16	3.0	4.0
3	裘燕青	中国计量学院光学与电子科技学院	7	37	3.0	6.0
4	张刘刘	中国计量学院光学与电子科技学院	1	8	1.0	1.0