用HXCF测量物质X射线质量衰减系数

• 作者: 吴冲 吴金杰 张帅 李婷 李承泽 霍彬彬
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 X射线 质量衰减系数 HXCF
• 年，卷（期）: 2016,（z1）
• 所属期刊栏目: 电离辐射计量
• 页码范围: 79-81
• 页数: 3页
• 分类号: TB98
• 字数: 1670字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2016.z1.18

摘要

X射线质量衰减系数是研究X射线的一个重要物理量,硬X射线探测器地面标定装置由于其单色性、稳定性以及其可测的绝对光子数,成为了研究质量衰减系数的一套理想装置.使用Cu、A12种不同材料分别在X射线能量为30 keV、50 keV、80 keV、100 keV和110 keV的情况下对其质量衰减系数进行测量,并将测量值与NIST的参考值进行了对比,得到了其标准偏差.根据NIST提供的质量衰减系数曲线,验证了Cu和Al在110keV处的质量衰减系数,为进一步研究做好了基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴金杰		68	186	7.0	9.0
2	李婷		30	87	6.0	8.0
6	霍彬彬		5	3	1.0	1.0
10	李承泽		5	6	2.0	2.0