NOR型FLASH存储器测试技术

• 作者: 王征宇 赵桦
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: NOR型 FLASH DSIO
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 15-19,30
• 页数: 6页
• 分类号: TN307
• 字数: 1982字
• 语种: 中文

摘要

NOR型FLASH存储器因其能够长久地保持数据的非易失性(Non-Volatile)特点,被广泛用作各类便携型数字设备的存储介质,但由于此类器件的编程及擦写均需写入特定指令,以启动内置编程/擦除算法,从而使得采用自动测试系统对其进行测试也具有较高难度.因此,研究NOR型FLASH存储器的测试技术,并开发此类器件的测试平台具有十分重要的意义.首先以AMD公司的AM29LV160DT为例,介绍了NOR型FLASH存储器的基本工作原理,接着详细阐述了一种采用J750EX系统的DSIO模块动态生成测试矢量的方法,从而能够更为简便、高效地对NOR型FLASH存储器的功能进行评价.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵桦		6	14	3.0	3.0
2	王征宇		8	30	3.0	5.0