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摘要:
近年来利用动态电流(IDDT )测试研究 CMOS 电路故障的方法得到广泛关注。论文结合小波变换和概率神经网络方法,提出一种基于小波分析和神经网络的 IDDT 诊断方法。小波分析具有时频局部化特征,能有效提取突变信号特征,概率神经网络训练容易,收敛速度快,可以实现任意的非线性逼近,具有良好的分类效果。论文结合二者优点,实现对CMOS 电路故障的诊断,达到90%以上准确率。
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一种基于小波-神经网络的模拟电路故障诊断方法
故障诊断
模拟电路
小波变换
神经网络
基于小波分析的CMOS电路IDDT故障诊断新技术
故障诊断
瞬态电流IDDT
小波分析
故障特征参数
内容分析
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文献信息
篇名 基于小波概率神经网络的CMOS 电路 IDDT 诊断方法
来源期刊 舰船电子工程 学科 工学
关键词 IDDT 小波分析 概率神经网络 CMOS 电路
年,卷(期) 2016,(3) 所属期刊栏目 可靠性、保障性技术与效能分析
研究方向 页码范围 112-114,142
页数 4页 分类号 TP391
字数 1501字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-9730.2016.03.029
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 潘强 海军工程大学电子工程学院 25 67 5.0 7.0
2 熊波 海军工程大学电子工程学院 6 14 2.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
IDDT
小波分析
概率神经网络
CMOS 电路
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
舰船电子工程
月刊
1672-9730
42-1427/U
大16开
湖北省武汉市
1981
chi
出版文献量(篇)
9053
总下载数(次)
18
总被引数(次)
27655
论文1v1指导