单、双相抑郁患者在不同情绪面孔刺激下执行持续注意任务事件相关电位与治疗转归的相关性

• 作者: 向锋 宋来云 曹健伟 梁雪玲 肖攀攀 谈颂桃 郑小泳 黄淑燕 黄金焕
• 来源期刊: 精神医学杂志
• 学科: 医学
• 关键词: 单相抑郁 双相抑郁 情绪面孔 事件相关电位 治疗转归
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 109-114
• 页数: 6页
• 分类号: R749.4
• 字数: 4858字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-9346.2016.02.008

摘要

目的：探讨单相抑郁（UPD）与双相抑郁（BPD）患者在不同情绪面孔刺激下执行持续注意任务时的事件相关电位（ERPS）的特点及其与治疗转归的关系。方法比较36例单相抑郁患者（UPD组）、36例双相抑郁患者（BPD组）治疗前后以及36例健康志愿者（对照组）情绪面孔诱发的N170电位及靶刺激诱发的P300电位的特征，采用17项汉密尔顿抑郁量表（HAMD-17）、汉密尔顿焦虑量表（HAMA）、住院精神患者社会功能评定量表（SSPI）评定患者组病情严重程度及治疗效果。结果治疗前情绪面孔刺激下颞枕区N170波幅BPD组＜UPD组＜对照组（P＜0．05），顶枕区P300潜伏期BPD组＞UPD组＞对照组（P＜0．05）。治疗后N170波幅患者组均比治疗前升高，但BPD组仍低于对照组（P＜0．05）；P300潜伏期患者组均比治疗前缩短，但BPD组仍长于对照组（P＜0．05）。在4种情绪面孔中以恐惧面孔刺激的P300波幅最低，潜伏期最长（P＜0．05）。患者组N170波幅与HAMD、HAMA评分均呈负相关（P＜0．05），与SSPI评分均呈正相关（P＜0．05）；患者组P300潜伏期与HAMD、HAMA评分均呈正相关（P＜0．05），与SSPI评分均呈负相关（P＜0．05）。结论双相抑郁患者治疗前后均存在认知功能损害，难以像单相抑郁患者那样恢复到正常认知水平，且认知功能损害与疗效相关。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	向锋		4	8	2.0	2.0
2	黄淑燕		20	53	4.0	6.0
3	梁雪玲		7	20	3.0	4.0
4	黄金焕		9	15	3.0	3.0
5	郑小泳		19	43	3.0	5.0
6	宋来云		9	38	3.0	6.0
7	肖攀攀		3	7	2.0	2.0
8	曹健伟		7	12	3.0	3.0
9	谈颂桃		2	3	1.0	1.0